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测试分析服务

1.WAT测试(12寸晶圆)

MOS器件特性

存储器件特性

后段电参数,R,C,Rs

2.磁性器件测试(12寸晶圆)

读写特性,TMR,Vc, Rp Rap

可靠性测试:BDV,Endurance,Data Retention,WER

其它器件参数

3.磁材料特性(薄膜)

PMA,阻尼系数,Ms,Hc等

4.结构分析

SEM切片分析


服务支持电话:18305815568

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